判断题 高频光电导衰退法测量非平衡少数载流子寿命的测量下限一般为10～20μs。

判断题 腐蚀液的成分对腐蚀速度影响最大。

判断题 测量半导体硅单晶导电类型时，通常要对表面进行喷砂处理或进行研磨处理。