单项选择题
CSK-IB试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44、φ50台阶孔,其目的是方便用于()
A.测定斜探头折射角的正切(K值) B.测定直探头盲区范围 C.测定横波斜探头的分辨力 D.以上全是
单项选择题 用一台时基线已准确校正的超声波仪器和斜探头探测无切槽的IIW2试块,斜探头声束朝向R25方向,若令第一次回波位于满刻度为100的水平刻度25处,则圆弧面的第二次回波应出现在水平刻度的()
单项选择题 平底孔最常用作探测()的参考反射体。
单项选择题 长横孔最常用作探测()的参考反射体。