单项选择题 对检测仪的时间基线进行校正后，缺陷的埋藏深度可从荧光屏的（）上读出。

单项选择题 对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动，即可获得缺陷的（）所在的位置，从而定出缺陷的平面位置。

单项选择题 对于长条形试件，则常沿（）作平行纵轴的直线式扫查。