判断题
检验近表面缺陷最有效的方法是斜探头。
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判断题 由发射探头发射的超声波,通过试件后再由另一接收探头接收,这种方法称为穿透法。
判断题 晶片越厚频率越低。
判断题 缺陷反射能量的大小取决于缺陷的尺寸。