判断题 在X射线荧光光谱分析中，X 射线强度是指单位时间内通过探测器窗口的入射X射线光子数。

判断题 用XRF方法分析含硫和氯元素的样品时，试样制备后应立即用于测定。

判断题 自吸收法校正背景是利用大电流时空心阴极灯的发射谱线变宽所产生的自吸效应，以此测量背景吸收。