判断题 对于上照式X射线荧光光谱仪，为了防止样品掉落在仪器内，有时需要在其滤膜样品表面覆盖一层XRF专用聚丙烯膜保护仪器。

判断题 滤膜上颗粒物含量足够低时，使用X射线荧光光谱法分析其元素含量可以不考虑谱线重叠干扰。

判断题 与轻元素相比，使用X射线荧光光谱法测定重元素时，一般选择更高的X射线管电压。