判断题 半机械半电子测量系统在测量中每次可以测量多个控制点，或多个控制点之间的位置。

判断题 半机械半电子测量系统不能随着测量点数据的变化而及时地反映出来，需要不断反复测量不同的控制点来确定相关尺寸的正确性，操作比较繁琐，效率较低。

判断题 半机械半电子测量系统在测量中每次只能测量一个控制点，或两个控制点之间的位置参数，不能同时测量多个控制点。