判断题
X射线荧光(XRF)分析技术的特点是适用于各类固体样品中主、次、痕量多元素的同时测定。
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判断题 对于X射线荧光光谱无标样分析技术,尽量测试所有元素;对分析结果的评估,实验人员除了准确定义主要成分,同时需结合探测器线性范围和谱线干扰判断测量强度是否可靠。
判断题 X射线荧光光谱仪可以分析任何物理、化学性质的样品。
判断题 能量色散X射线荧光光谱仪因样品发射的X 射线直接进入探测器,且样品与探测器之间的距离短,又无准直器,因此效率比波长色散X射线荧光光谱仪高数个量级。