相关考题
-
单项选择题
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。
A、增加
B、减小
C、不变 -
单项选择题
双晶探头用于探测工件（）缺陷。
A、近表面
B、表面
C、内部
D、平面形 -
单项选择题
探伤仪主要指标中的动态范围和电路中的（）关联较大。
A、电源部分
B、显示部分
C、接收部分
D、发射部分
