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单项选择题
检测晶粒粗大的材料，应使用（）。
A.高频率的探头
B.底频率的探头
C.双晶探头
D.表面波探头 -
单项选择题
零件的材料组织或密集的细小缺陷在荧光屏只产生许多小信号的显示叫做（）。
A. 底面反射
B. 表面反射
C. 缺陷反射
D. 杂波 -
单项选择题
在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。
A. 探头接触不良
B. 遇到材质衰减大的部位
C. 工件底面不平或工件内部有缺陷
D. 以上都对
