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单项选择题

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

    A、测定斜探头K值
    B、测定直探头盲区范围
    C、测定斜探头分辨力
    D、以上全是

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