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光伏检测与分析
单项选择题
目前国内外广泛采用（）测量半导体硅单晶电阻率。
A.四探针法
B.扩展电阻法
C.范德堡法
D.两探针法
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冷热探笔法属于利用半导体的（）来测量导电类型的方法。
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缓冲剂一般是（）。
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层错属于（）
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半导体器件厂就是用一定型号的（）来生产出所需要的半导体元件。
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半导体硅的常用液体试剂腐蚀剂中HCL的浓度大致为（）
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（）是最简单的点缺陷。
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（）是目前国内最常用的判断半导体导电类型的方法。
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（）是半导体中最主要的缺陷，它属于线缺陷。
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（）对半导体单晶电化学腐蚀速度的影响最大。
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