多项选择题 半导体晶体缺陷中的宏观缺陷主要有（）

多项选择题 半导体硅的常用腐蚀剂主要有（）。

单项选择题 用冷热探笔法测量导电类型时，热探笔的温度要适当，以（）为宜。