判断题
无论是直流光电导法或高频光电导法测量少数载流子寿命时应满足小注入条件。
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判断题 位错是半导体中最主要的缺陷。
判断题 可以将小角度晶界看成是层错的排列。
判断题 硅单晶在不同腐蚀液中,P型硅的电极电位比N型硅的高。