判断题
位错是半导体中最主要的缺陷。
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判断题 可以将小角度晶界看成是层错的排列。
判断题 硅单晶在不同腐蚀液中,P型硅的电极电位比N型硅的高。
判断题 高频光电导衰退法测量非平衡少数载流子寿命的测量下限一般为10~20μs。