判断题 原生晶体中的漩涡缺陷不容易充分显示，尤其是直拉单晶，经过热处理才变得明显化。

判断题 无论是直流光电导法或高频光电导法测量少数载流子寿命时应满足小注入条件。

判断题 位错是半导体中最主要的缺陷。