单项选择题
直流光电导衰退法的缺点主要有（）
A.测量下限较高 B.对样品有几何形状和几何尺寸的要求 C.要求制备符合一定要求的欧姆接触 D.仪器线路比较复杂
多项选择题 用接触法测量半导体单晶电阻率的方法主要有（）
多项选择题 影响半导体单晶电化学腐蚀速度的因素主要有（）
多项选择题 陷阱效应对少数载流子寿命测量的影响可以采用（）
